YTÜ DSpace Kurumsal Arşivi

80C32 mikrokontrolör tabanlı otomatik test cihazı tasarımı

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.advisor Prof. Dr. Şefik Sarıkayalar
dc.contributor.author Engin, Kenan
dc.date.accessioned 2018-07-25T10:10:24Z
dc.date.available 2018-07-25T10:10:24Z
dc.date.issued 1996
dc.identifier.uri http://localhost:6060/xmlui/handle/1/8046
dc.description Tez (Yüksek Lisans) - Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 1996
dc.description.abstract Otomatik test cihazları pazarı gittikçe çok daha fazla kullanım imkanına sahip olmaktadır.Bu gelişme dikkate alınarak temel anlamda gerçek bir otomatik test cihazının tasarımı bu tezin amacını oluşturmuştur. Cihazın ana kartında mikrokontrolör olarak MCS51 ailesinden 80C32 kullanılmıştır.ADC, Real Time Clock ve Seri haberleşme üniteleri gibi temel donanım birimlerine sahip olan ana kart aslında genel amaçlı bir geliştirme kartı hüviyetinde olup piyasada mühendislik bazında yapılacak her türlü araştırma ve geliştirme çalışmalarım tam anlamıyla destekleyebilecek kapasitededir. Bunun için standart bir Seri Haberleşme programı kullanarak ana kartın PC ile haberleşmesi sağlanmış ve araştırma esnasında en hızlı bir şekilde yazılım çalışması yapmaya uygun hale getirilmiştir. Tez tamamen pratik bir çalışma olduğu için deneysel çalışma da bir 3 fazlı motor kontrol kartının fonksiyonel olarak test edilmesi amaçlanmıştır. Seçilen hedef kartın standartlara uygun bir haberleşme birimi olmaması dolayısıyla detaylı bir arabağlaşım ( interface ) ünitesinin tasarımım gerçekleştirmekte zorunlu olmuştur. Ana kart sabit kalmak şartıyla ilave donanım çalışmalarını en aza indirgeyerek sadece interface ünitesinde temel değişiklikler yapılarak bu cihazın farklı kartları test edebilme imkanı mümkündür.Piyasadaki çok kapsamlı otomatik test cihazlarına kıyas edildiğinde servis verebildiği kart sayışırım bir adet olmasına karşılık bu cihaz fiyat/performans kriteri açısından doyurucu özelliklere sahiptir.Aynı zamanda yalnız direnç ölçümüne dayalı bir test tekniği kullanılmayıp gerçek anlamda fonksiyonel bir test tekniği uygulandığı için hatasız test sonuçlarına varmak mümkün olmaktadır. Sistemin donanım yapısı gereği cihaza I/O kartlarım adapte etmek kolaydır.Bu şekilde hizmet sunabildiği kart adedi rahatlıkla artırılabilir.Cihazın aynı zamanda farklı amaçlar için kullanıma uygun olması ve donanım problemini standart gerekler açısından ortadan kaldırmış olması kayda değer özellikleri arasındadır.
dc.subject Gelişmiş bakım sistemleri
dc.subject ana kart tanımımikrokontrolör
dc.title 80C32 mikrokontrolör tabanlı otomatik test cihazı tasarımı
dc.type Tez


Bu öğenin dosyaları

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster